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LSI故障解析技術のすべて
貸出可
二川 清/著 -- 工業調査会 -- 2007.11 -- 549.7
SDI
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所蔵館
所蔵場所
請求記号
資料番号
資料区分
帯出区分
状態
一般
一般資料室
549.7/2007/
00012095774
和書
帯出可
在庫
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資料詳細
タイトル
LSI故障解析技術のすべて ,
書名ヨミ
エルエスアイ コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ
副書名
開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー
著者
二川 清
/著
著者名ヨミ
ニカワ,キヨシ
出版者
工業調査会
出版年
2007.11
ページ数, 大きさ
221p, 21cm
NDC10版
549.7
NDC8版
549.7
一般件名
集積回路
ISBN
978-4-7693-1269-7
内容紹介
LSIの故障解析技術そのものに焦点を絞り、現在どのような技術が利用され、研究開発されているかについて、微細化、マージナル不良、タイミング不良などに対応するものに重点を置いて解説する。
内容注記
文献:p205〜214
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