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デバイス・部品の故障解析 貸出可

二川清／〔ほか〕著 -- 日科技連出版社 -- １９９２．９ --

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料番号 資料区分 帯出区分 状態
一般 公開書庫西 549/92/ 00004536421 和書 帯出可 在庫 iLisvirtual

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タイトル デバイス・部品の故障解析 ,
書名ヨミ デバイス　ブヒン　ノ　コショウ　カイセキ
叢書名 信頼性１１０番シリーズ
著者 二川清 ／〔ほか〕著  
著者名ヨミ ニカワ　キヨシ
出版者 日科技連出版社
出版年 １９９２．９
ページ数, 大きさ １２７ｐ, ２１ｃｍ
NDC８版 549.8
一般件名 半導体

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