進藤 大輔/共著 -- 共立出版 -- 1999.5 -- 549.97

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料番号 資料区分 帯出区分 状態
一般 一般資料室 549.9/99/ 00008368730 和書 帯出可 在庫 iLisvirtual

資料詳細

タイトル 材料評価のための分析電子顕微鏡法 ,
書名ヨミ ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ ブンセキ デンシ ケンビキョウホウ
著者 進藤 大輔 /共著, 及川 哲夫 /共著  
著者名ヨミ シンドウ,ダイスケ , オイカワ,テツオ
出版者 共立出版
出版年 1999.5
ページ数, 大きさ 182p, 26cm
NDC10版 549.97
NDC8版 549.97
一般件名 電子顕微鏡 , 材料試験
内容紹介 先端材料の構造を評価する手段としての、分析電子顕微鏡法のために、最新の分析電子顕微鏡のハードとソフト、さらに各種の分析技法について詳述。装置の模式図や解析データを多数掲載し、読みやすくした。