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XAFSの基礎と応用 貸出可

日本XAFS研究会／編 -- 講談社 -- 2017.7 -- 433.57

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料番号 資料区分 帯出区分 状態
一般 一般資料室 433.5/2017/ 00014226435 和書 帯出可 在庫 iLisvirtual

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タイトル XAFSの基礎と応用 ,
書名ヨミ ザフス ノ キソ ト オウヨウ
並列タイトル Foundations and Applications of XAFS
著者 日本XAFS研究会 ／編  
著者名ヨミ ニホン ザフス ケンキュウカイ
出版者 講談社
出版年 2017.7
ページ数, 大きさ 10,341p, 21cm
NDC１０版 433.57
NDC８版 433.5
一般件名 エックス線分光分析
ISBN 978-4-06-153295-3 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
内容紹介 物質を構成する特定元素のまわりの局所的な構造を調べる有効な手法として幅広く用いられるX線吸収微細構造(XAFS)分光法。XAFSの理論から、一般的な解析法、実験の基盤技術や応用展開技術、関連手法までを解説する。

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