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物質・材料研究のための透過電子顕微鏡 貸出可

木本 浩司／著 -- 講談社 -- 2020.7 -- 549.97

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料番号 資料区分 帯出区分 状態
一般 一般資料室 549.9/2020/ 00013946363 和書 帯出可 在庫 iLisvirtual

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タイトル 物質・材料研究のための透過電子顕微鏡 ,
書名ヨミ ブッシツ ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ トウカ デンシ ケンビキョウ
並列タイトル Transmission Electron Microscope for Materials Research
著者 木本 浩司 ／著, 三石 和貴 ／著, 三留 正則 ／著, 原 徹 ／著, 長井 拓郎 ／著  
著者名ヨミ キモト,コウジ , ミツイシ,カズタカ , ミトメ,マサノリ , ハラ,トオル , ナガイ,タクロウ
出版者 講談社
出版年 2020.7
ページ数, 大きさ 10,389p, 21cm
NDC１０版 549.97
NDC８版 549.97
一般件名 電子顕微鏡
ISBN 978-4-06-520386-6 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
著者紹介 物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点電子顕微鏡グループグループリーダー/副拠点長。
内容紹介 結晶構造分析・元素分析・化学結合状態解析などを原子レベルで行うことができる透過電子顕微鏡法(TEM)。電子回折法、走査透過電子顕微鏡法、電子エネルギー損失分光法等、TEMのさまざまな計測手法を詳しく解説する。

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