所蔵

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所蔵館	所蔵場所	請求記号	資料番号	資料区分	帯出区分	状態
一般	一般資料室	428.4/2025/	00014975585	和書	帯出可	在庫

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資料詳細

タイトル	二次イオン質量分析法 ,
書名ヨミ	ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
叢書名	表面分析技術選書
出版者	丸善出版
出版年	2025.5
ページ数, 大きさ	9,226p, 21cm
NDC１０版	428.4
一般件名	表面(工学) , イオンビーム , 質量分析
ISBN	978-4-621-31135-6
注記	初版:丸善 1999年刊
内容紹介	多くの研究分野で活用されている二次イオン質量分析法(SIMS)。その原理と基礎から、SIMSによる測定の実際、目的別の応用例までを解説する。SIMSの全貌を見通せるテキスト。

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