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ＬＳＩテスティングハンドブック 貸出可

LSIテスティング学会／編 -- オーム社 -- 2008.11 -- 549.7

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料番号 資料区分 帯出区分 状態
一般 一般資料室 549.7/2008/ 00012185583 和書 帯出可 在庫 iLisvirtual

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タイトル ＬＳＩテスティングハンドブック ,
書名ヨミ エルエスアイ　テスティング　ハンドブック
著者 LSIテスティング学会 ／編  
著者名ヨミ エルエスアイ テスティング ガッカイ
出版者 オーム社
出版年 2008.11
ページ数, 大きさ 12,598p, 22cm
NDC１０版 549.7
NDC８版 549.7
一般件名 集積回路-便覧
ISBN 978-4-274-20632-0 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
内容紹介 LSIテスティングの基本概念から実際までを把握できるハンドブック。LSIのテストに関する理論と技術、およびその装置全般の原理や測定方法などを体系的に解説する。具体的な事例やデータ、図表、式も豊富に掲載。

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