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Ｘ線反射率法入門 貸出可

桜井 健次／編 -- 講談社 -- 2009.2 -- 549.8

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料番号 資料区分 帯出区分 状態
一般 一般資料室 549.8/2009/ 00012228847 和書 帯出可 在庫 iLisvirtual

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タイトル Ｘ線反射率法入門 ,
書名ヨミ エックスセン　ハンシャリツホウ　ニュウモン
著者 桜井 健次 ／編  
著者名ヨミ サクライ,ケンジ
出版者 講談社
出版年 2009.2
ページ数, 大きさ 12,306p, 21cm
NDC１０版 549.8
NDC８版 549.8
一般件名 薄膜 , エックス線 , 非破壊検査
ISBN 978-4-06-153268-7 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
著者紹介 東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。工学博士。独立行政法人物質・材料研究機構ディレクター、放射光解析グループリーダー。筑波大学大学院教授を兼務。
内容紹介 X線反射率法の専門的入門書。X線反射率の基礎から測定装置、測定方法、データ解析法、分析技術の高度化、応用までを解説するほか、併用すると有意義な関連技術についても説明する。
内容注記 文献：章末

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