大分県立図書館 蔵書検索
県立図書館ホームページへ
蔵書検索トップ
詳細検索
ブックリスト
Myライブラリ
レファレンス
機能紹介
本サイトにはJavaScriptの利用を前提とした機能がございます。
お客様の環境では一部の機能がご利用いただけない可能性がございますので、ご了承ください。
本サイトではCookieを使用しています。ブラウザの設定でCookieを有効にしてください。
資料詳細
詳細検索
ジャンル検索
1 件中、 1 件目
デバイス・部品の信頼性試験
貸出可
高久清/〔ほか〕著 -- 日科技連出版社 -- 1992.9 --
SDI
予約かごへ
本棚へ
所蔵
所蔵は
1
件です。現在の予約件数は
0
件です。
所蔵館
所蔵場所
請求記号
資料番号
資料区分
帯出区分
状態
一般
公開書庫西
549/92/
00004536413
和書
帯出可
在庫
ページの先頭へ
資料詳細
タイトル
デバイス・部品の信頼性試験 ,
書名ヨミ
デバイス ブヒン ノ シンライセイ シケン
叢書名
信頼性110番シリーズ
著者
高久清
/〔ほか〕著
著者名ヨミ
タカヒサ キヨシ
出版者
日科技連出版社
出版年
1992.9
ページ数, 大きさ
164p, 21cm
NDC8版
549
一般件名
電子部品
ページの先頭へ