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X線反射率法入門 貸出可

桜井 健次／編著 -- 講談社 -- 2018.6 -- 549.8

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料番号 資料区分 帯出区分 状態
一般 一般資料室 549.8/2018/ 00014452395 和書 帯出可 在庫 iLisvirtual

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タイトル X線反射率法入門 ,
書名ヨミ エックスセン ハンシャリツホウ ニュウモン
著者 桜井 健次 ／編著  
著者名ヨミ サクライ,ケンジ
出版者 講談社
出版年 2018.6
ページ数, 大きさ 14,369p, 21cm
NDC１０版 549.8
NDC８版 549.8
一般件名 薄膜 , エックス線 , 非破壊検査
ISBN 978-4-06-153296-0 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
著者紹介 東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。工学博士。国立研究開発法人物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点上席研究員。筑波大学大学院教授を兼務。
内容紹介 X線反射率法の専門的入門書。X線反射率の基礎から、測定装置と測定方法、データ解析法、微小領域分析およびイメージングへの展開、X線反射率法の応用、併用すると有意義な関連技術、中性子の利用までを解説する。

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