重川 秀実/編著 -- 近代科学社 -- 2020.8 -- 501.22

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料番号 資料区分 帯出区分 状態
一般 一般資料室 501.2/2020/ 00013952890 和書 帯出可 在庫 iLisvirtual

資料詳細

タイトル ナノ計測 ,
書名ヨミ ナノ ケイソク
副書名 電子線・光・プローブ技術を用いたナノ・バイオ材料の探索と評価
叢書名 シリーズ:未来を創るナノ・サイエンス&テクノロジー
著者 重川 秀実 /編著, 吉村 雅満 /共著, 目良 裕 /共著, 岡嶋 孝治 /共著  
著者名ヨミ シゲカワ,ヒデミ , ヨシムラ,マサミチ , メラ,ユタカ , オカジマ,タカハル
出版者 近代科学社
出版年 2020.8
ページ数, 大きさ 10,179p, 21cm
NDC10版 501.22
NDC8版 501.22
一般件名 計測・計測器 , ナノテクノロジー
ISBN 978-4-7649-5029-0 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
著者紹介 工学博士。筑波大学数理物質系教授。専門は極限計測、ナノ物性。
内容紹介 新材料、機能素子開発の共通基盤として必要となる、ナノスケールでの計測・評価技術の最先端の内容を紹介。将来にわたって重要となる基礎も身につけることができるように編集する。