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    寺田和代
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佐藤 公隆/編集 -- アグネ技術センター -- 1998.1 -- 433.57

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料番号 資料区分 帯出区分 状態
一般 一般資料室 433.5/98/ 00008067555 和書 帯出可 貸出中 iLisvirtual

資料詳細

タイトル X線分析最前線 ,
書名ヨミ エックスセン ブンセキ サイゼンセン
著者 佐藤 公隆 /編集  
著者名ヨミ サトウ,キミタカ
出版者 アグネ技術センター
出版年 1998.1
ページ数, 大きさ 360p, 21cm
NDC10版 433.57
NDC8版 433.5
一般件名 エックス線分光分析
注記 監修:合志陽一
内容紹介 概要・各手法の特徴と使い分け・PIXEや全反射蛍光X線などの先端的方法・薄膜・半導体やユニークな物質への応用例など、X線分析の最前線の内容を網羅する。
内容注記 X線分析100年略年表 木村正雄作成:p349〜350