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何のためのテスト? 貸出可

ケネス・J.ガーゲン／著 -- ナカニシヤ出版 -- 2023.3 -- 371.7

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料番号 資料区分 帯出区分 状態
一般 一般資料室 371.7/2023/ 00012763280 和書 帯出可 在庫 iLisvirtual

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タイトル 何のためのテスト? ,
書名ヨミ ナンノ タメ ノ テスト
副書名 評価で変わる学校と学び
著者 ケネス・J.ガーゲン ／著, シェルト・R.ギル ／著, 東村 知子 ／訳, 鮫島 輝美 ／訳  
著者名ヨミ ガーゲン,ケネス J. , ギル,シェルト R. , ヒガシムラ,トモコ , サメシマ,テルミ
出版者 ナカニシヤ出版
出版年 2023.3
ページ数, 大きさ 8,223p, 21cm
NDC１０版 371.7
一般件名 教育評価
ISBN 978-4-7795-1704-4 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
注記 原タイトル:Beyond the tyranny of testing
著者紹介 社会構成主義の第一人者。
内容紹介 そのテスト、本当に必要ですか? 社会構成主義の第一人者と教育学者が、これまで教育の変革の大きな障壁となってきた評価のあり方を徹底的に検証し、その代替案を示す。

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